现代科学技能中，调查、丈量、剖析以及操作纳米巨细的物体是一个抢手的研讨范畴。原子力显微镜的诞生为

  研讨者们供给了剖析和操作纳米国际的眼和手。因而，自诞生以来AFM现已被大范围的使用在科研和工业界各范畴，包括

  了聚合物资料表征，集成光路丈量，资料力学功能表征，细胞外表形状调查，生物大分子的结构及性质，生物传感

  器，分子自拼装结构等范畴的监测等各类科研和出产作业。经过布鲁克2013年原子力显微镜丈量技能一系列讲座，

  AFM的根底原理及成像形式，AFM技能的开展发展，及其最新最先进的使用和功用，有了全面的了解。

  在2013年布鲁克原子力显微镜丈量技能系列讲座的最终一讲，咱们将要点介绍探针的根底信息以及假如合理选

  择AFM探针。在AFM的丈量以及数据剖析过程中，探针有着无足轻重的效果。合理挑选探针，可以在必定程度上协助操作者快速

  高效地取得高质量的试验数据。协助AFM用户把握取得高品质图画，获取试验数据的技巧；为用户更深化的研讨工

  第三讲 ：原子力显微镜在高分辩定量丈量资料特性方面的使用发展（点击观看精彩回放）

  第四讲：使用AFM-Raman集成成像体系来进行资料功能表征的最新发展（点击观看精彩回放）